基于Gd2O2S:Pr:Ce的陶瓷闪烁体在将X射线转换为光线方面具有很高的效率,其衰减时间(t1 / 10 = 5.5 us)短得足以允许以1 ms的间隔重复成像,磷光低, 辐射稳定性高。 由于这些特性的组合,它们已广泛用于医学计算机断层扫描中。 Gd2O2S 由于其宽的间隙(4.6-4.8eV),高化学稳定性和高密度,还可以生产用于彩色电视显像管,医疗成像设备和上转换发光的磷光体和闪烁陶瓷。 当前的GOS闪烁陶瓷作为用于X射线CT探测器应用的闪烁体材料非常有前途。


参数

闪烁性质

属性数值
波长(最大发射)(nm)510
波长范围(nm)400-2000
衰减时间5.5
宽间隙(eV)4.6-4.8
发光强度(keV)27.5
X射线衰减系数(cm-152 at 70   keV
X射线衰减系数(cm-10.80 at 500 keV
相对光输出(%)80
余辉(%)< 0.01

物理化学性质

属性数值
材料Ge2O2S
密度g / cm37.34
晶体结构六方晶体
晶格参数a = b = 3.85827Å, c = 6.666659 Å
吸湿性
解离面
溶解度(g / 100gH2O)N/A

特点

  • 发光效率高
  • 低余辉
  • 高光输出
  • X射线吸收效率高
  • 应用

  • X射线CT
  • X射线显微
  • 激光材料
  • 谱图

    17-GOS-闪烁陶瓷吸收谱- 南京光宝光电-CRYLINK (2)
    17-GOS-闪烁陶瓷吸收谱- 南京光宝光电-CRYLINK
    17-GOS- 闪烁陶瓷吸收谱- 南京光宝光电-CRYLINK

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    参考文献

    [1]  Ito Y ,  Yamada H ,  Yoshida M , et al. Hot Isostatic Pressed Gd2O2S:Pr, Ce, F Translucent Scintillator Ceramics for X-Ray Computed Tomography Detectors[J]. Japanese Journal of Applied Physics, 1988, 27(8):L1371-L1373.
    [2]  Nakamura R . Improvements in the X‐ray Characteristics of Gd2O2S:Pr Ceramic Scintillators[J]. Journal of the American Ceramic Society, 2010, 82(9):2407-2410.
    [3] Wei, Wang, Yongsheng, et al. Gd2O2S: Pr Scintillation Ceramics from Powder Synthesized by a Novel Carbothermal Reduction Method[J]. Journal of the American Ceramic Society, 2015.